产品详情
  • 产品名称:X射线多晶衍射仪D8 ADVANCE

  • 产品型号:
  • 产品厂商:布鲁克(BRUKER)
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简单介绍:
进口X射线衍射仪|布鲁克多功能X射线衍射仪|X射线多晶衍射仪D8 ADVANCE可实现粉末,块体,薄膜等样品的测试分析,同时支持高低温条件下的原位分析。进口X射线衍射仪|布鲁克多功能X射线衍射仪|X射线多晶衍射仪D8 ADVANCE可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
详情介绍:

进口X射线衍射仪|布鲁克多功能X射线衍射仪|X射线多晶衍射仪D8 ADVANCE简介:

ADVANCE是模块化设计的全功能衍射仪,可实现粉末,块体,薄膜等样品的测试分析,同时支持高低温条件下的原位分析。

X射线多晶衍射仪D8 ADVANCE,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!         

高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!  

先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。 

进口X射线衍射仪|布鲁克多功能X射线衍射仪|X射线多晶衍射仪D8 ADVANCE特点:
1、 采用新一代的陶瓷X光管技术,焦斑位置稳定,衰减小,寿命长;而且该光管为标准尺寸,对用户的限制小;因为采用的是封闭靶技术,后期维护非常方便; 
2、 全自动可变狭缝,用户可以自由选择固定狭缝大小或固定测量面积模式; 
3、 高精度立式测角仪,样品水平放置,*小步长及角度重复性皆为0.0001o;测角仪精度保障:国际NIST 刚玉标样用户现场检测,保证全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01o; 
4、 林克斯一维阵列探测器:相对与常规探测器强度提高150倍以上,灵敏度提高一个数量级。 
4.1、该探测器共由192个子探测器阵列组成,在相同条件下,与常规的闪烁计数器(或正比计数器)相比,强度增益(或速度增益)高达150倍以上,同时具有优良的分辨率及信噪比; 
4.2、杰出的角度分辨率:基本上等同于采用0.1mm接受狭缝的点探测器的分辨率。在大幅提高强度的同时,保证了数据质量; 
4.3、良好的低角度测量:LynxEye探测器在充分吸收布鲁克20多年的阵列探测器应用的基础上,基本克服了常规阵列探测器低角度性能欠佳的弱点; 
4.4、优异的能量分辨率:20%,无需单色器,即可有效去除含铁样品的荧光; 4.5、192个子探测器分别由单独电路控制,确保无坏子探测器,可以做静态扫描,尤其适合配了高温原位分析附件的用户; 
4.6、用户可随意选择子探测器开放个数,当作点探测器使用,免去了点、线探测器互换的麻烦; 
4.7、该探测器完全免维护,使用方便。 
5、 分析软件:好用、功能强,所有参数调整采用动态调整、所见即所得的方式,简单、快捷。 
5.1、EVA检索软件 
5.2、考虑样品物理含义的重叠峰分离软件; 
5.3、TOPAS无标样定量分析软件; 
5.4、新一代的Rietveld结构精修软件及粉末衍射解结构软件,除了常规的模拟退火外,还提供*新的电荷反转及三维傅立叶变换,在测量软件上还提供了可变计数时间模式,以增加高角度信号强度。 
6、 在薄膜应用上,布鲁克的新D8A衍射仪,采用TWIN-TWIN光路设计,可以同时实现入射及衍射光路上,狭缝到镜子、狭缝到平行光狭缝的自动切换,用户只需在软件上通过下拉菜单选择需要的光学器件即可,解决了以前需要人工置换,重新对光的麻烦; 
7、 在点光源应用上(包括微区、织构、应力),新D8A采用了TWIST TUBE技术,用户可以直接将光管转90度即刻完成点线光源的切换,而无需拆卸光管。 在原位分析应用上,新D8A配备了高低温一体化设计,温度范围-180oC到+1600oC,高低温模块之间的切换只需更换加热模块,而无需更换整个样品台;而且该样品台为高度自动可调样品台,对于不同高度的样品,均能应付自如。
进口X射线衍射仪|布鲁克多功能X射线衍射仪|X射线多晶衍射仪D8 ADVANCE应用:
物相定性分析 结晶度及非晶相含量分析 结构精修及解析 物相定量分析 点阵参数精 确测量 无标样定量分析 微观应变分析 晶粒尺寸分析 原位分析 残余应力 低角度介孔材料测量 织构及ODF分析 薄膜掠入射 薄膜反射率测量 小角散射。
进口X射线衍射仪|布鲁克多功能X射线衍射仪|X射线多晶衍射仪D8 ADVANCE技术指标:
Theta/theta立式测角仪
2Theta角度范围:-110~168°
角度精度:0.0001度                     
Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管 
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器                  
仪器尺寸:1868x1300x1135mm                            
重量:770kg
功率:6.5kW

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