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  • 产品名称:国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808

  • 产品型号:
  • 产品厂商:NCS
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简单介绍:
国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808是针对金属、建材、地质、环境、矿产等领域对无机元素分析技术的需求,研制的具有元素范围广(B-U)、动态范围宽(ppm-100%)、检出下限低、精度高、速度快等诸多优点X射线荧光光谱仪。国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808达到《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》A级要求,适用于地质、建材、新材料、生态环境等诸多领域。
详情介绍:

国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808仪器简介:

X射线荧光(XRF)技术是当今*主要的分析测试技术之一,具有元素范围广(B-U)、动态范围宽(ppm-100%)、检出下限低、精度高、速度快、自动化、无损测试、制样简单、多元素同时测定等诸多优点,与ICP-AESICP-MS并称无机多元素测试技术领域的三大支柱。

在科技部国家重大科学仪器专项(2012YQ050076)的支持下,针对金属、建材、地质、环境、矿产等领域对无机元素分析技术的需求,厂家先后攻克了X射线源、分光光路系统、探测器等关键技术,成功研制了顺序式波长色散X射线荧光光谱仪——CNX-808

基于国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808,纳克与国家地质实验测试中心等多家权威测试机构合作,开发了适合各行业的分析测试方法,建立了针对金属、地质、建材、环境、矿物等领域多种类型样品的方法体系。

国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808应用领域:

地质样品领域:

CNX-808针对地质领域压片和熔片两类样品分别开发了应用方法体系,可以为地质研究、找矿提供可靠的检测数据。

建材样品领域:

国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808针对多种建材样品的分析需求,建立了水泥、涂料等样品应用方法体系,实现对样品的高精度分析。

新材料样品领域:

CNX-808能够解决新材料研究领域宽幅、无损、全元素分布分析的难题。

生态环境领域:

CNX-808针对生态环境中的土壤、植物、水系沉积物、空气颗粒物等样品的分析需求,建立了整体的解决方案。通过研究不同时期形成的土壤层、沉积层中的有害重金属元素含量分布特征,为环境评价提供可靠的指标参数。

国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808仪器特点:

高稳定高精度X射线源:

4kW大功率高压发生器,保证更低的检测下限和更快的分析速度;优化的功率自动调节程序,能够快速调整功率,监控X射线管状态,提高使用寿命;一体化冷却水机,提供对X射线管更可靠的保护。

优良的光路设计:

光程短,有利于获得更大的计数率。提供*多10组滤光片、10组光阑、4组初级准直器、10组分光晶体的配置。

波谱能谱复合功能(选配)

波谱能谱复合可以提高数据质量和检测速度,选配的SDD探测器,提供更加灵活的分析手段,两种功能深度复合。分布分析时,可以根据实际需求,任选一种探测器。

可靠的高精度测角仪:

θ/2θ单独驱动,测角仪采用成熟可靠的传动和反馈技术,在保证性能优异的同时,具有可靠性高、使用寿命长等特点。

便捷强大的分析测试软件:

界面友好,操作便捷,内置多种算法,全自动化测试过程,满足定量定性分析需要。

国产顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808仪器参数:

波长色散X射线荧光光谱仪指标

硬件配置

高压发生器

*大电压:60kV

*大电流:150mA

*大功率:4kW

长期稳定度:0.01%

X射线管

端窗

可选靶材:RhCuMoWCrPt

铍窗厚度:75μm/50μm可选

自动进样器

1/48位可选,机械手自动进样系统

样品尺寸

固体,*大φ50mm*H30mm

样品台

极坐标定位、带自旋功能

初级滤光片

TiZrCuAl等多种材质和厚度可选,*多可配10

光阑

φ35,30,25,20,10,3,1,0.5mm及衰减器

初级准直器

1503005007503000μm可选,做多可配4

测角仪

θ-2θ独立驱动

扫描范围:SC1-118°)、PC10-148°)

步进角度:0.001°、0.002°、0.005°、0.01°、0.02°、0.05°、0.1°

角度重复性:±0.0005°

角度精度:±0.0005°

分光晶体

10位晶体交换器,liF200LiF220PETGe、多层膜晶体等可选

探测器

闪烁体计数器(SC)、正比式流气计数器(F-PC

恒温器

36.5±0.1

真空系统

分析室和进样室双真空

选配件

分析室充He气系统(分析液体样品的气氛)

能谱探测器SDD,可与波谱复合使用,提高检测效率

样品CCD照相系统,配合分布分析使用

仪器指标

达到《JJG 810-1993 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》A

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