产品详情
  • 产品名称:日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪

  • 产品型号:FT,MAXXI和X-Strata系列
  • 产品厂商:日立(Hitachi)
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简单介绍:
上海铸金分析仪器有限公司供应多种型号的日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪。基于X荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al到92U的固体或液体样品。日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。
详情介绍:

日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪|FT,MAXXIX-Strata系列

日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪简介:

微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪|FT,MAXXI和X-Strata系列提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al92U的固体或液体样品。

日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪应用:

■微焦斑 XRF 光谱仪应用于 PCB、半导体和电子行业

PCB / PWB 表面处理

控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556IPC 4552A测量非电镀镍(ENNiP)电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营,确保高质量并避免昂贵的返工。

▲电力和电子组件的电镀

零件必须在规格范围内被电镀,以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-StrataMAXXI系列产品 ,可以测量小的试片或连续带状样品,从而达到 引线框架(引线框架)、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。

IC 载板

半导体器件越来越小巧而复杂,需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析,及重复性好的数据。

▲服务电子制造过程 (EMSECS

结合 采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点,实现从进厂检查到生产线流程控制,再到*终质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和*终产品,确保每个阶段的质量。

▲光伏产品

对可再生能源的需求不断增加,而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力一部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束XRF可帮助保证这些电池镀层的准确度和连贯性,从而确保*高效率。

▲受限材料和高可靠性筛查

与复杂的全球供应链合作,验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的XRF技术,根据IEC 62321方法检验进货是否符合RoHSELV等法规要求,确保高可靠性涂镀层被应用于航空和军事领域。


 

X-Strata920
正比计数器

X-Strata920
高分辨率 SDD

FT110A
正比计数器

MAXXI 6
高分辨率 SDD

FT150高分辨率 SDD毛细管聚焦光学系统

ENIG

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

ENEPIG

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

非电镀镍厚度和组成 (IPC 4556, IPC 4552)

★★☆

★★★

★★★

非电镀镍厚度

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

浸镀银

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

浸镀锡

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

HASL

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

无铅焊料(如 SAC)

★☆☆

★★☆

★☆☆

★★★

★★★

CIGS

★★☆

★★★

★★★

CdTe

★★☆

★★★

★★★

纳米级薄膜分析

★★☆

★★★

★★★

多层分析

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

IEC 62321 RoHS 筛选

★★★

检测特征 < 50 µm 

★★★

模式识别软件

★★★

★★★

 

■微焦斑XRF光谱仪应用于金属表面处理

▲耐腐蚀性

检验所用涂层的厚度和化学性质,以确保产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小紧固件或大型组件。

▲耐磨性

通过确保磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度,预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。

▲装饰性表面

当目标是实现无瑕表面时,整个生产过程中的质量控制至关重要。通过日立分析仪器的多种测试设备,您可以可靠地检测基材,中间层和顶层厚度。

▲耐高温

在极端条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。确保符合涂镀层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。

 

 

X-Strata920正比计数器

X-Strata920高分辨率SDD

FT110A正比计数器

MAXXI 6高分辨率SDD

FT150 高分辨率SDD

Zn / Fe, Fe 合金

Cr / Fe, Fe 合金
Ni / Fe, Fe
合金

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

ZnNi / Fe, Fe 合金
ZnSn / Fe, Fe
合金

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al

★★☆
(
仅厚度)

★★☆
(
厚度和成分)

★★☆
(
仅厚度)

★★★
(
厚度和成分)

★★★
(
厚度和成分)

Ag / Cu
Sn / Cu 

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

Cr / Ni / Cu / ABS

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

Au / Pd / Ni /CuZn

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

WC / Fe, Fe 合金
TiN / Fe, Fe
合金

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

纳米级薄膜分析

★★☆

★★★

★★★

多层分析

★★☆

★★★

★★☆

★★★

★★★

IEC 62321 RoHS 筛选

★★★

DIM可变焦测试系统

 

★★★

 

模式识别软件

★★★

 

日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪产品型号:

1X-Strata920

正比计数器或高分辨率 SDD

→元素范围:钛 - 铀,或铝 - 铀(SDD

→样品舱设计:开槽式

XY 轴样品台选择: 固定台、加深台、自动台

→*大样品尺寸:270 x 500 x 150毫米

→*大数量准直器:6

→滤光片:1

→*小的准直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

SmartLink 软件

2FT110A

¨正比计数器系统

¨元素范围:钛 -

¨样品舱设计:开闭式或开槽式

¨XY 轴样品台选择: 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台

¨*大样品尺寸:500 x 400 x 150 毫米

¨*大数量准直器:4

¨滤光片:1

¨*小的准直器:0.05 毫米

¨X-ray Station 软件

3MAXXI 6

高分辨率 SDD

元素范围: 铝 -

样品舱设计:开槽式

⌂XY 轴样品台选择:固定台、自动台

*大样品尺寸:500 x 450 x 170毫米

*大数量的准直器:8

滤光片:5

*小的准直器: 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)

⌂SmartLink 软件

4FT150

高分辨率 SDD

元素范围: 铝 -

样品舱设计:开闭式

◊XY 轴样品台选择:自动台、晶片样品台

*大样品尺寸:600 x 600 x 20 毫米

滤光片:1 3

毛细聚焦管 < 20 µm

◊XRF控制软件

 


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