日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪 FT,MAXXI和X-Strata系列上海铸金分析仪器有限公司

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产品名称：日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪
产品型号：FT,MAXXI和X-Strata系列
产品厂商：日立(Hitachi)

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简单介绍：

上海铸金分析仪器有限公司供应多种型号的日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪。基于X荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al到92U的固体或液体样品。日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。

详情介绍：

日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪|FT,MAXXI和X-Strata系列

日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪简介：

微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪|FT,MAXXI和X-Strata系列提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al到92U的固体或液体样品。

日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪应用：

■微焦斑 XRF 光谱仪应用于 PCB、半导体和电子行业

▲PCB / PWB 表面处理

控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552A测量非电镀镍（EN，NiP）电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，*****并避免昂贵的返工。

▲电力和电子组件的电镀

零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。开槽的X-Strata和MAXXI系列产品，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。

▲IC 载板

半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。

▲服务电子制造过程（EMS、ECS）

结合采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点，实现从进厂检查到生产线流程控制，再到*终质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和*终产品，**每个阶段的质量。

▲光伏产品

对可再生能源的需求不断增加，而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力一部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束XRF可帮助**这些电池镀层的准确度和连贯性，从而*****率。

▲受限材料和高可靠性筛查

与复杂的全球供应链合作，验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的XRF技术，根据IEC 62321方法检验进货是否符合RoHS和ELV等法规要求，**高可靠性涂镀层被应用于航空和**领域。

	X-Strata920 正比计数器	X-Strata920 高分辨率 SDD	FT110A 正比计数器	MAXXI 6 高分辨率 SDD	FT150高分辨率 SDD毛细管聚焦光学系统
ENIG	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
ENEPIG	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
非电镀镍厚度和组成 (IPC 4556, IPC 4552)	无	★★☆	无	★★★	★★★
非电镀镍厚度	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
浸镀银	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
浸镀锡	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
HASL	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
无铅焊料（如 SAC)	★☆☆	★★☆	★☆☆	★★★	★★★
CIGS	无	★★☆	无	★★★	★★★
CdTe	无	★★☆	无	★★★	★★★
纳米级薄膜分析	无	★★☆	无	★★★	★★★
多层分析	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
IEC 62321 RoHS 筛选	无	无	无	★★★	无
检测特征 < 50 µm	无	无	无	无	★★★
模式识别软件	无	无	★★★	无	★★★

■微焦斑XRF光谱仪应用于金属表面处理

▲耐腐蚀性

检验所用涂层的厚度和化学性质，以**产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小紧固件或大型组件。

▲耐磨性

通过**磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度，预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。

▲装饰性表面

当目标是实现无瑕表面时，整个生产过程中的质量控制至关重要。通过日立分析仪器的多种测试设备，您可以可靠地检测基材，中间层和顶层厚度。

▲耐高温

在*端条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。**符合涂镀层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。

	X-Strata920正比计数器	X-Strata920高分辨率SDD	FT110A正比计数器	MAXXI 6高分辨率SDD	FT150 高分辨率SDD
Zn / Fe, Fe 合金 Cr / Fe, Fe 合金 Ni / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
ZnNi / Fe, Fe 合金 ZnSn / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al	★★☆ (仅厚度)	★★☆ (厚度和成分)	★★☆ (仅厚度)	★★★ (厚度和成分)	★★★ (厚度和成分)
Ag / Cu Sn / Cu	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
Cr / Ni / Cu / ABS	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
Au / Pd / Ni /CuZn	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
WC / Fe, Fe 合金 TiN / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
纳米级薄膜分析	无	★★☆	无	★★★	★★★
多层分析	★★☆	★★★	★★☆	★★★	★★★
IEC 62321 RoHS 筛选	无	无	无	★★★	无
DIM可变焦测试系统	无	无	★★★	无	无
模式识别软件	无	无	★★★	无	无

日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪产品型号：

1、X-Strata920

→正比计数器或高分辨率 SDD

→元素范围：钛 - 铀，或铝 - 铀（SDD）

→样品舱设计：开槽式

→XY 轴样品台选择：固定台、加深台、自动台

→*大样品尺寸：270 x 500 x 150毫米

→*大数量准直器：6

→滤光片：1

→*小的准直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

→SmartLink 软件

2、FT110A

¨正比计数器系统

¨元素范围：钛 - 铀

¨样品舱设计：开闭式或开槽式

¨XY 轴样品台选择：开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台

¨*大样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米

¨*大数量准直器：4

¨滤光片：1

¨*小的准直器：0.05 毫米

¨X-ray Station 软件

3、MAXXI 6

⌂高分辨率 SDD

⌂元素范围：铝 - 铀

⌂样品舱设计：开槽式

⌂XY 轴样品台选择：固定台、自动台

⌂*大样品尺寸：500 x 450 x 170毫米

⌂*大数量的准直器：8

⌂滤光片：5

⌂*小的准直器： 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)

⌂SmartLink 软件

4、FT150

◊高分辨率 SDD

◊元素范围：铝 - 铀

◊样品舱设计：开闭式

◊XY 轴样品台选择：自动台、晶片样品台

◊*大样品尺寸：600 x 600 x 20 毫米

◊滤光片：1 或 3

◊毛细聚焦管 < 20 µm

◊XRF控制软件

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